介電耐壓與擊穿試驗的區別及測試設備選擇

耐壓測試是一種非常通用的測試，可用于多種應用，從研發(fā)和型式測試，到生產(chǎn)線(xiàn)末端甚至維修后驗證電氣安全。

在這篇文章中，我們來(lái)看看兩種最常見(jiàn)的耐壓測試之間的差異，即介電耐壓測試和介電擊穿測試。

原則上，這兩種測試在被測器件（DUT）上的應用幾乎相同，但測試結果往往不同。

耐壓測試通常包括兩個(gè)測試端子、一個(gè)輸出電壓源和一個(gè)回流端子，泄漏電流流入回流端子并由測試設備測量。

介電耐壓試驗

介電耐壓試驗是耐壓試驗中最常見(jiàn)的一種。它涉及施加規定的電壓，對于由電源電壓供電的設備，通常在1000V或更高的范圍內。

測試（輸出）電壓施加一段規定的時(shí)間（保持時(shí)間），從型式測試的幾分鐘到生產(chǎn)（常規）測試的低至一秒不等。

通常，測試的成功結果將由在返回端子中檢測到的電流量來(lái)確定。如果電流過(guò)多（跳閘電流），則測試將作為故障中止。

電流的大小通常以毫安為單位測量，并將設置一個(gè)電流閾值來(lái)確定測試是否通過(guò)。同樣，根據應用的不同，該值可能會(huì )有所不同。型式試驗場(chǎng)景的限值在100mA范圍內是相當常見(jiàn)的，在這種情況下，試驗是在更可控的實(shí)驗室型環(huán)境中進(jìn)行的。當在生產(chǎn)線(xiàn)上進(jìn)行測試時(shí)，為了確保測試操作員的安全，這些限制通常要低得多，在5mA范圍內是可以接受的。

這種類(lèi)型的測試通常沒(méi)有破壞性，除非設備中已經(jīng)存在故障，因此它在生產(chǎn)環(huán)境中是如此常見(jiàn)的測試。然而，作為型式試驗的一部分進(jìn)行的較長(cháng)試驗可能會(huì )削弱絕緣材料的完整性。因此，作為型式試驗一部分進(jìn)行試驗的產(chǎn)品通常不適合銷(xiāo)售。

電介質(zhì)擊穿試驗

電介質(zhì)擊穿測試以與上述相同的方式進(jìn)行，但是在該特定測試中沒(méi)有規定最大電壓，并且通常沒(méi)有保持時(shí)間。

相反，電壓逐漸增加，直到被測產(chǎn)品的絕緣體不能再承受電壓并發(fā)生擊穿為止。該電壓是絕緣體變得導電的點(diǎn)。

在這種情況下，關(guān)鍵參數是擊穿點(diǎn)的記錄電壓。

如上所述，這種測試的本質(zhì)可以被視為破壞性的，其目的是迫使DUT達到擊穿點(diǎn)。因此，這種類(lèi)型的測試僅在研發(fā)環(huán)境中進(jìn)行，不適合用于常規測試，因為這會(huì )使設備處于不安全狀態(tài)。

結論

可以看出，這兩種測試方法在確定產(chǎn)品的整體安全性方面都有一席之地，但這些測試仍然需要選擇正確的時(shí)間和地點(diǎn)?？紤]到這一點(diǎn)，很明顯，為什么僅在研發(fā)型環(huán)境中使用介電擊穿測試，并且在測試后按預期使用產(chǎn)品的情況下，介電耐壓測試是證明安全性的更可接受的方法。

測試方案

5kV AC / 6kV DC →絕緣耐壓測試設備 HAL101/103/104、Sentinel、ST HV（DC）

3kV AC → Supernova Elite（Class II）、STM/L（Class II）

2.5kV AC → 絕緣耐壓測試設備PROFITEST PRIME AC、SafeCheck 8（Class II）